[ITS] IT terministandardi sõnastik

Küsitud kujul või valitud artikli osast otsitut ei leitud, kasutan laiendatud otsingut.
Leitud 17 artiklit

[et]
14.AA.01

-

‣ Joonis 1. Tõrke mudel

Nagu näitab (A), võib funktsionaalüksust vaadelda hierarhilise mitmetasemelise struktuurina, mille iga taset võib omakorda nimetada funktsionaalüksuseks. „Põhjus„ võib i-tasemel avalduda veana (hälbena õigest väärtusest või olekust) selle i-taseme funktsionaalüksuses ning kui teda ei parandata või neutraliseerita, võib ta põhjustada selle funktsionaalüksuse tõrke, mille tagajärjel see langeb olekusse „F„, kus ta ei ole enam võimeline täitma nõutavat funktsiooni (vt (B)). Niisugune i-taseme funktsionaalüksuse olek „F„ võib omakorda avalduda veana (i-1)-taseme funktsionaalüksuses ning kui seda viga ei parandata ega neutraliseerita, võib ta põhjustada selle (i-1)-taseme funktsionaalüksuse tõrke.
Selles põhjuste ja tagajärgede ahelas võib üht ja sama asja („olemit X„) vaadelda olekuna (olek „F„), millesse i-taseme funktsionaalüksus on langenud oma tõrke tulemusena, ning ühtlasi ka (i-1)-taseme funktsionaalüksuse tõrke põhjusena. See „olem X„ ühendab endas ISO/IEC 2382-14 mõiste „rike„, mis rõhutab olemi põhjuseaspekti, nagu seda illustreerib (C), ning IEC 50 (191) mõiste „rike„, mis rõhutab olemi olekuaspekti, nagu seda illustreerib (D). Olekut „F„ nimetab IEC 50 (191) rikkeks, ISO/IEC 2382-14 aga seda olekut ei määratle.
Märkus:
▫Mõnedel juhtudel võib tõrke või vea põhjustada mitte sisemine rike, vaid väline sündmus, näiteks äike või elektrostaatiline müra. Samuti võib rike (defekt) (mõlema standardi mõttes) eksisteerida eelneva tõrketa. Sellise rikke näide on tehnolahenduse defekt.
EVS-ISO/IEC 2382-14:1999 (kehtiv)

[en]
14.AA.01

-

‣ Figure 1 - Failure model

As shown in (A), a functional unit can be viewed as a hierarchical composition of multiple levels, each of which can in turn be called a functional unit. In Level-i, a „cause„ may manifest itself as an error (a deviation from the correct value or state) within this Level-i functional unit, and, if not corrected or circumvented, may cause a failure of this functional unit, as a result of which it falls into an „F„ state where it is no more able to perform a required function (see (B)). This „F„ state of the Level-i functional unit may in turn manifest itself as an error in the Level-(i-1) functional unit and, if not corrected or circumvented, may cause a failure of this Level-(i-1 ) functional unit.
In this cause-and-effect chain, the same thing („Entity X„) can be viewed as a state („F„ state) of the Level-i functional unit into which it has fallen as a result of its failure, and also as the cause of the failure of the Level-(i-1) functional unit. This „Entity X„ combines the concept of „fault„ in ISO/IEC 2382-14, which emphasizes its cause aspect as illustrated in (C), and that of „fault„ in IEC 50 (191), which emphasizes its state aspect as illustrated in (D). The „F„ state is called fault in IEC 50 (191), whereas it is not defined in ISO/IEC 2382-14.
Märkus:
▫In some case, a failure or an error may be caused by an external event such as lightning or electrostatic noise, rather than by an internal fault. Likewise, a fault (in both vocabularies) may exist without a prior failure. An example of such a fault is a design fault.
EVS-ISO/IEC 2382-14:1999 (kehtiv)